Microscopie à force atomique
Marque BIOBASE
Origine du produit CHINE
Délai de livraison Dans les 7 jours
Capacité dapprovisionnement Approvisionnement direct d'usine
Modèle BK-AFM1000
Introduction:
La microscopie à force atomique (AFM) est une technique d'imagerie à haute résolution utilisée pour analyser les caractéristiques de surface à l'échelle nanométrique. L'AFM est largement utilisée en science des matériaux, en biologie, en physique et en nanotechnologie pour étudier les surfaces et les films minces, permettant aux chercheurs de capturer des cartes topographiques avec une précision atomique.
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Caractéristiques:
1. La sonde de balayage intégrée et la platine d'échantillonnage améliorent la capacité anti-interférence du système de suspension à ressort.
2. Le dispositif de positionnement de sonde et de laser de précision rend le changement de sonde et le réglage du point simples et pratiques.
3. L'approche automatique de l'échantillon à la sonde constitue un moyen efficace d'éviter les collisions en porte-à-faux.
4. L'approche verticale de la sonde d'échantillonnage permet d'obtenir un positionnement précis de la zone d'intérêt.
5. La zone de numérisation de l'échantillon d'intérêt peut être librement sélectionnée avec une table XY de haute précision/large plage.
6. Le système CCD à vue de dessus garantit l'observation et le positionnement en temps réel de la sonde sur la région d'échantillon sélectionnée.
7. La conception modulaire du système de contrôle électronique facilite la maintenance et les améliorations continues.
8. Le modèle compact 2000 peut être facilement transporté à l'intérieur d'un bagage en aluminium.
9. Le boîtier hermétique du modèle 1000 offre un environnement contrôlé.
Paramètres techniques :
Modèle | BK-AFM1000 |
Modes de fonctionnement | Mode contact et mode rodage Modes optionnels : Phase, Friction (LFM), Magnétique (MFM), Électrostatique (EFM) |
Taille de l'échantillon | Ф≤90mm, H≤20mm |
Scanners disponibles | 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm |
Résolution de numérisation | 0,2 nm dans la direction XY, 0,05 nm dans la direction Z |
Plage de mouvement de l'échantillon | ±6,5 mm |
Largeur d'impulsion du moteur pas à pas | 10±2 ms |
Points d'échantillonnage d'image | 512*512 |
Grossissement optique 4X | Résolution optique 2,5 μm |
Taux de balayage 0,6 Hz à 4,34 Hz | Angle de balayage 0°~360° |
Contrôle de numérisation | D/A 18 bits dans la direction XY, D/A 16 bits dans la direction Z |
Échantillonnage des données | Échantillonnage synchrone multicanal A/N 14 bits, double A/N 16 bits |
Retour | Rétroaction numérique DSP |
Taux d'échantillonnage de rétroaction | 64 kHz |
Interface informatique | USB 2.0 |
Système opérateur | Windows XP/7/8/10 |
Alimentation électrique | CA 220 V, 50/60 Hz ; 110 V, 50/60 Hz (en option) |
Taille du paquet | 550*550*1150mm |
Poids brut | 65 kg |
