microscopie à force atomique
  • Microscopie à force atomique

    Microscopie à force atomique

    Introduction: La microscopie à force atomique (AFM) est une technique d'imagerie à haute résolution utilisée pour analyser les caractéristiques de surface à l'échelle nanométrique. L'AFM est largement utilisée en science des matériaux, en biologie, en physique et en nanotechnologie pour étudier les surfaces et les films minces, permettant aux chercheurs de capturer des cartes topographiques avec une précision atomique.

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